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Date de publication : 19/08/2009
Date de péremption :
Type de procédure : Avis d'attribution
Type de document : Avis d'attribution
FRANCE ()
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Microscope Electronique a Balayage en Haute Resolution. Au sein de l'institut national de l'énergie solaire (INES), le CEA a mis en place plusieurs filières afin de développer d'une part, la recherche sur des cellules photovoltaïques à base de silicium multicristallin et de matériaux organiques et d'autre part sur le transport et le stockage de l'énergie solaire. Dans ce cadre, le département des technologies solaires souhaite faire l'acquisition d'un Microscope. Electronique à Balayage en Haute Résolution (MEB FEG) pour l'observation et l'analyse d'impuretés présentes au sein des matériaux et de matériaux utilisés pour l'énergie solaire. Ce MEB FEG sera installé dans les laboratoires de l'INES, sur le site de Savoie Technolac, pour observer des échantillons de quelques cm². Les caractéristiques principales de ce MEB FEG sont les suivantes: - Equipement travaillant à basse tension voisine de 500V, - Résolution en mode STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) inférieure à 1,5 nanomètre, - Détecteur d'électrons secondaires et d'électrons rétrodiffusés, - Analyse X (EDX - Energy Dispersive X-ray) en mode STEM, - Présence d'un SAS d'introduction dans la chambre. Un certain nombre d'options portant, entre autres, sur le dimensionnement du périmètre et des prestations accessoires pourront être apportées et précisées en tant que de besoin dans le dossier de consultation

2009/S 158-230032 (Source TED)
 
 
V  E  R  S  I  O  N      F  R  A  N  C  A  I  S  E
TX: AVIS D'ATTRIBUTION DE MARCHÉ Fournitures
 
 
SECTION I: POUVOIR ADJUDICATEUR
I.1)NOM, ADRESSES ET POINT(S) DE CONTACT: CEA/Grenoble, 17 Rue des Martyrs, à l'attention de Elodie Eymard, F-38054 Grenoble Cedex
   9.  Tél.
+33 438780525. E-mail: elodie.eymard@cea.fr. Fax +33 438785060.
I.2)TYPE DE POUVOIR ADJUDICATEUR ET ACTIVITÉ(S) PRINCIPALE(S): Organisme de droit public.
Défense.
Autre: Recherche.

Le pouvoir adjudicateur agit pour le compte d'autres pouvoirs adjudicateurs: non.
 
 
SECTION II: OBJET DU MARCHÉ
II.1)DESCRIPTION
II.1.1)Intitulé attribué au marché par le pouvoir adjudicateur:
Microscope Electronique a Balayage en Haute Resolution.
II.1.2)Type de marché et lieu d'exécution, de livraison ou de prestation: Fournitures.
Achat.
Lieu principal de livraison: CEA/Grenoble.
Conditions d'acces reglementées.
Code NUTS FR714.
II.1.4)Description succincte du marché ou de l'acquisition/des acquisitions: Au sein de l'institut national de l'énergie solaire (INES), le CEA a mis en place plusieurs filières afin de développer d'une part, la recherche sur des cellules photovoltaïques à base de silicium multicristallin et de matériaux organiques et d'autre part sur le transport et le stockage de l'énergie solaire.

Dans ce cadre, le département des technologies solaires souhaite faire l'acquisition d'un Microscope.
Electronique à Balayage en Haute Résolution (MEB FEG) pour l'observation et l'analyse d'impuretés présentes au sein des matériaux et de matériaux utilisés pour l'énergie solaire.
Ce MEB FEG sera installé dans les laboratoires de l'INES, sur le site de Savoie Technolac, pour observer des échantillons de quelques cm².

Les caractéristiques principales de ce MEB FEG sont les suivantes:
 - Equipement travaillant à basse tension voisine de 500V,  - Résolution en mode STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) inférieure à 1,5 nanomètre,  - Détecteur d'électrons secondaires et d'électrons rétrodiffusés,  - Analyse X (EDX - Energy Dispersive X-ray) en mode STEM,  - Présence d'un SAS d'introduction dans la chambre.

Un certain nombre d'options portant, entre autres, sur le dimensionnement du périmètre et des prestations accessoires pourront être apportées et précisées en tant que de besoin dans le dossier de consultation.
II.1.5)Classification CPV (vocabulaire commun pour les marchés publics):
38511100.
II.1.6)Marché couvert par l'accord sur les marchés publics (AMP): Oui.
 
 
SECTION IV: PROCÉDURE
IV.1)TYPE DE PROCÉDURE
IV.1.1)Type de procédure: Restreinte.
IV.2)CRITÈRES D'ATTRIBUTION
IV.2.1)Critères d'attribution: Offre économiquement la plus avantageuse appréciée en fonction.
IV.2.2)Une enchère électronique a été utilisée: Non.
IV.3)RENSEIGNEMENTS D'ORDRE ADMINISTRATIF
IV.3.1)Numéro de référence attribué au dossier par le pouvoir adjudicateur: AAPC 09-05.
IV.3.2)Publication(s) antérieure(s) concernant le même marché: Numéro d'avis au JO: 2009/S 22-031422 du
   3. 2.2009.
 
 
SECTION V: ATTRIBUTION DU MARCHÉ
MARCHÉ N°: 4000389550 INTITULÉ: MICROSCOPE ELECTRONIQUE A BALAYAGE.
V.1)DATE D'ATTRIBUTION DU MARCHÉ:
   3. 8.2009.
V.2)NOMBRE D'OFFRES REÇUES:
   4. 
V.3)NOM ET ADRESSE DE L'OPÉRATEUR ÉCONOMIQUE AUQUEL LE MARCHÉ A ÉTÉ ATTRIBUÉ: FEI France, 10 Place Charles Beraudier, F-69428 Lyon Cedex
   3. 
V.5)LE MARCHÉ EST SUSCEPTIBLE D'ÊTRE SOUS-TRAITÉ: Non.
 
 
SECTION VI: RENSEIGNEMENTS COMPLÉMENTAIRES
VI.1)LE MARCHÉ S'INSCRIT DANS UN PROJET/PROGRAMME FINANCÉ PAR DES FONDS COMMUNAUTAIRES: Non.
VI.2)AUTRES INFORMATIONS: IV.2.1) Critère d'attribution (cocher la case concernée): des critères énoncés dans le cahier des charges, dans l'invitation à soumissionner ou à négocier ou encore dans le document descriptif.
VI.3)PROCÉDURES DE RECOURS:
VI.3.1)Instance chargée des procédures de recours: Tribunal de Grande Instance De Grenoble, Place Firmin Gautier, F-38000 Grenoble. Tél. +33 438212121.
VI.3.3)Service auprès duquel des renseignements peuvent être obtenus concernant l'introduction des recours: Greffe du Tribunal de Grande Instance De Grenoble, Place Firmin Gautier, F-38000 Grenoble. Tél. +33 438212121.
VI.4)DATE D'ENVOI DU PRÉSENT AVIS: 17.8.2009.
 
 
C L A S S E    C P V
38511100 - Microscopes électroniques à balayage 

 
            

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