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Date de publication : 30/12/2010
Date de péremption :
Type de procédure : Procédure ouverte
Type de document : Avis d'attribution
SUISSE
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Microscopes électroniques. CPV: 38511200.

2010/S 253-389284 (Source TED)
 
 
V  E  R  S  I  O  N      F  R  A  N  C  A  I  S  E
TX: AVIS D'ATTRIBUTION DE MARCHÉ Fournitures
 
 
SECTION I: POUVOIR ADJUDICATEUR
I.1)NOM, ADRESSES ET POINT(S) DE CONTACT Ecole polytechnique fédérale de Lausanne, centre interdisciplinaire de microscopie électronique (CIME) bâtiment MXC - station 12 Attn: Prof. Cécile Hébert 1015 Lausanne SUISSE
I.2)TYPE DE POUVOIR ADJUDICATEUR ET ACTIVITÉ(S) PRINCIPALE(S) Organisme de droit public
 
 
SECTION II: OBJET DU MARCHÉ
II.1)DESCRIPTION
II.1.1)Intitulé attribué au marché Microscopes électroniques.
II.1.2)Type de marché et lieu d'exécution, de livraison ou de prestation Fournitures
II.1.4)Description succincte du marché ou de l'acquisition/des acquisitions
II.1.5)Classification CPV (vocabulaire commun pour les marchés publics) 38511200
II.1.6)Marché couvert par l'accord sur les marchés publics (AMP) Oui
 
 
SECTION IV: PROCÉDURE
IV.1)TYPE DE PROCÉDURE
IV.1.1)Type de procédure Ouverte
IV.3)RENSEIGNEMENTS D'ORDRE ADMINISTRATIF
IV.3.2)Publication(s) antérieure(s) concernant le même marché Numéro d'avis au JOUE: 2010/S 164-252574 du 25.8.2010
 
 
SECTION V: ATTRIBUTION DU MARCHÉ
MARCHÉ N°: 1 LOT n° 3 - INTITULÉ Dossier 1007-3372 / transmission electron microscope for materials science. L'EPFL entend acquérir un microscope électronique à transmission qui sera installé au centre interdisciplinaire de microscopie électronique (CIME). Ce nouveau microscope servira à étudier la micro et nano-structure ainsi que la composition chimique d'échantillon en sciences des matériaux, physique et chimie. Il sera utilisé par un grand nombre d'utilisateurs (~60) ainsi que des étudiants supervisés. Le microscope doit permettre aux utilisateurs de travailler avec une grande efficacité sur leurs échantillons (grand débit, bonne stabilité). Le besoin d'étudier un grand nombre d'échantillons par session (typiquement 4h) requiert un système avec une bonne stabilité mécanique (drift) et électronique (alignements) ainsi qu'un système EDX efficace et rapide. L'instrument doit permettre de réaliser les opérations grâce à une interface utilisateur intégrée qui puisse être adaptée au niveau de training de l'utilisateur et à ses besoins techniques (non exclusivement): analyses de défauts et texture champ clair /champ sombre, diffraction en aire sélectionnée, nano-diffraction. Microscopie analytique: STEM BF/DF/HAADF, EDX rapide et à haute résolutionCrystallographie électronique: spinning star, analyse de texture ("TEM/EBSDé)TEM "haute résolution" image de franges de réseau, analyse de défauts, interfaces, analyse de particules nanométriques. Occasionnellement: refroidissement, chauffage, traction. Optionnel: EELS.
V.1)Date d'attribution du marché: 23.12.2010
V.2)NOMBRE D'OFFRES REÇUES:
V.3)NOM ET ADRESSE DE L'OPÉRATEUR ÉCONOMIQUE EN FAVEUR DUQUEL UNE DÉCISION D'ATTRIBUTION DU MARCHÉ A ÉTÉ PRISE FEI Europe BV, Eindhoven, Zweigniederlassung Zürich c/o BDO AG Fabrikstrasse 50 8005 Zurich SUISSE SECTION VI: RENSEIGNEMENTS COMPLÉMENTAIRES
VI.2)AUTRES INFORMATIONS Raisons de la décision d'adjudication: l'équipement choisi présente la meilleure adéquation à nos besoins actuels et prévisibles (protection de l'investissement), compte tenu de l'évolution rapide des exigences liées à la recherche. Indication des voies de recours: conformément à l'art. 30 LMP, la présente publication peut être attaquée, dans un délai de 20 jours à compter de sa notification, auprès du tribunal administratif fédéral, case postale, 3000 Berne 14, SUISSE. Le mémoire de recours, à présenter en 2 exemplaires, indiquera les conclusions, motifs et moyens de preuve et portera la signature de la partie recourante ou de son mandataire; y seront jointes une copie de la présente publication et les pièces invoquées comme moyens de preuve, lorsqu'elles sont disponibles. Publication de référence nationale: Simap de la 29.12.2010, doc. 578577.
VI.4)DATE D'ENVOI DU PRÉSENT AVIS: 29.12.2010
 
 
C L A S S E    C P V
38511200 - Microscopes électroniques à transmission 

 
            

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